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手动探针系统,带有用于在硅晶圆上测试半导体的针头。选择性聚焦. 使用探针台检查硅晶圆上的微芯片。特写。半导体晶体制造。选择性聚焦。
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尺寸 MAX
4242x2828px •
14.1" x 9.4" • @300dpi •
7MB • jpg
作者引用附注






































